激光測厚儀是利用激光的反射原理，根據光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產品的厚度，是一種非接觸式的動態測量儀器。它可直接輸出數字信號與工業計算機相連接，并迅速處理數據并輸出偏差值到各種工業設備。

　　X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，達到要求的軋制厚度。主要應用行業：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業的板帶加工。

　　紙張測厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。

　　薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量度高，具有數據輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。

　　涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.

超聲波測厚儀：超聲波測厚儀是根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量。

涂鍍層測厚儀根據測量原理一般有以下五種類型：

　　1.磁性測厚法：適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為：鋼，鐵，銀，鎳。此種方法測量度高。

　　2.渦流測厚法：適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種較磁性測厚法度低。

　　3.超聲波測厚法：目前輛還沒有此種方法測量涂鍍層厚度的，外個別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測量或者是以上兩種方法都無法測量的場合。但一般價格昂貴，測量度也不高。

　　4.電解測厚法：此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層，一般度也不高。測量起來比較其他幾種麻煩。

　　5.放射測厚法：此處儀器價格非常昂貴（一般在10萬RMB以上），適用于一些特殊場合。

　　內目前使用zui為普遍的是第1/2兩種方法。

磁性測厚儀

　　磁性測厚儀一體式儀器結構，可以單手操作。它采用電磁感應原理，適用于測量各種磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，可以測量鋼鐵上的各種電鍍（鍍鎳除外）、涂層、琺瑯、塑料等覆蓋層厚度，還可用于測量各種金屬箔（如銅箔、鋁箔、金箔等）和非金屬薄膜（如紙張、塑料等）的厚度。本儀器可用于生產檢驗、驗收檢驗及質量監督檢驗。符合家標準。

渦流測厚儀

　　渦流測厚儀是一種小型儀器，采用渦電流測量原理，可以方便無損地測量有色金屬基體上的油漆、塑料、橡膠等涂層，或者是鋁基體上的陽氧化膜厚度等。該儀器廣泛應用于機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業。

渦流測量原理

　　高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適。

　　1、塑料上的銅、鉻層：建議用庫侖法測厚儀（會破壞鍍層）或X射線測厚儀（無損測量），如銅層在10m~200m可考慮電渦流法測厚儀（無損測量）。

　　2、金屬件上鍍鋅層：如在鋼鐵基體上應使用經濟的磁感應法測厚儀（無損測量）。其它金屬基體用庫侖法測厚儀（會破壞鍍層）或X射線測厚儀（無損測量）。

　　3、鐵基體上的電泳漆，油漆應使用經濟的磁感應法測厚儀（無損測量）。其它金屬基體上的電泳漆，油漆應使用經濟的電渦流法測厚儀（無損測量）。

　　4、干膜是指己固化了的油漆涂層。

　　5、鍍鉻層參考2項、1項。

　　6、車內外飾件噴漆只有用切鍥法（PIG，會破壞涂層），超聲波法（無損測量）可測10微米以上涂層，但有時測不到。

　　7、價格：磁感應法、電渦流法0.6~3萬；庫侖法0.8~6萬；超聲波法5.5~6萬；X射線測厚儀25~40萬。